M.; Dudek的图书会按更新时间持续补充，适合从代表作和同主题书继续延展阅读。
Angewandte Oberflachenanalyse Mit SIMS Sekundar-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Rontgen-Photoelektronen-Spektrometrie
Grasserbauer, M.; Dudek, H. J.; Ebel, Maria F.
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