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半导体材料与器件表征技术
施罗德
评分 暂无
《半导体材料与器件表征技术》详细介绍了现代半导体工业中半导体材料和器件的表征技术，基本上覆盖了所有的电学与光学测试方法，以及非常专业的与半导体材料相关的物理和化学测试方法。作者不但论述了测量中的相关物理问题及半导体材料与器件的参数的物理起源和物理意义，还将自己和他人的经验凝结其中，并给出了具体测量手段，同时指出不同手段的局限性和测量注意事项。 本版经修订及扩展，增加了许多逐渐成熟起来的表征技术，如
热物理学导论
评分 9.6分
本书是一部全面介绍热物理学入门的本科生教程（全英文版）。该书的内容分为三大部分：第1部分介绍了热物理学基本原理；第2，3部分分别详细介绍了热动力学和统计力学技巧以及它们的在实践中的应用。本书最大的特点是内容广泛，结合实际，形象易懂，包含了尽可能多的应用实例，涉及诸多领域，例如，化学、生物、地理、环境科学、工程、低温物理、固态物理、宇宙学、天体物理学等。这本书浅显易懂，只要能够了解基本物理学以
