电子元器件失效分析技术

恩云飞, 来萍, 李少平

出版时间

2015-11-01

ISBN

9787121272301

评分

★★★★★
书籍介绍
本书是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。
用户评论
基本面面俱到了,不错的参考书
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