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电子元器件失效分析技术
恩云飞
,
来萍
,
李少平
出版社
电子工业出版社
出版时间
2015-11-01
ISBN
9787121272301
评分
★★★★★
标签
失效分析
书籍介绍
本书是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。
用户评论
基本面面俱到了,不错的参考书
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