芯片先进封装制造

姚玉

出版时间

2019-12-01

ISBN

9787566827845

评分

★★★★★
书籍介绍

芯片先进封装测试是半导体产业链中的重要环节,其投资体量大、市场需求大、技术门槛高、发展速度快,是世界各国迈向高科技领域及产业升级发展的必经途径。

在人工智能、自动驾驶、卫星高铁、5G网络、物联网、消费型电子产品等新兴产业新兴需求的蓬勃发展下,对于芯片高性能、小尺寸、高可靠性和低功耗的要求进一步提高。在终端技术升级以及生产良品率要求的驱动下,IC设计与晶圆制造厂家越来越多的渗透进入先进封装领域,促进整个产业链条深度合作资源整合。因此,芯片先进封装作为近期产业链中异常活跃的技术创新环节,在存储芯片、逻辑芯片、图像芯片、功率芯片、MEMS芯片等各类芯片制造以及系统性集成的组合工艺在先进封装段呈现百家争鸣、百花齐放的景象。大量的创新型工艺技术在该环节涌现,使各种功能芯片性能更进一步提升,同时能够在更小的封装结构中得以高度集成,大大推进了芯片产业的发展。

与相对成熟的IC封装不同,中国的芯片先进封装产业起步较晚,产业基础较薄弱,产业生态链严重依赖国外进口,在日趋紧张的国际局势下,中国亟需在核心技术人才、材料技术、设备技术、工艺技术等多领域全面发力,打破垄断,实现产业的自主发展和创新突破。

本书作为芯片先进封装技术概论,从晶圆级封装制造及关键技术、当前主流制造工艺、未来趋势以及发展应用前景等角度,全面介绍该产业新制造技术概貌,深入浅出,视野开阔,图文并茂。本书内容对政策制定者来说,可以更清晰地了解产业概貌,更精准地制定产业政策;对于高等院校、科研机构师生来说,本书具有教程功能及参考价值;对于芯片制造及其他集成电路产业链相关领域的工程技术人员,可以更好地帮助他们了解这个领域当前的工艺技术概貌;对于投资者,可以更好地了解产业发展现状及趋势,把握投资方向,制定投资策略。最后,热诚地希望本书能给各个层面的读者带来帮助和收益。

姚玉,毕业于加拿大英属哥伦比亚大学,博士学历。现任香港创智科技有限公司董事长,深圳市创智成功科技有限公司副董事长,江苏矽智半导体科技有限公司副董事长(主营芯片快件制造业务)。多年来专注于半导体先进封装制程材料、工艺及理论的研究,对于半导体先进封装中运用的多种关键的镀层材料以及制程的工艺整合及管理有着丰富的经验。

周文成,毕业于中国台湾成功大学矿冶及材料工程研究所,硕士学历。曾任国际知名半导体封测厂高级工程技术管理人员。长期从事半导体行业技术研究工作,对芯片先进封装具有扎实的理论功底和丰富的研发经验。

用户评论
未来的趋势,可能就是晶圆直接上板
按需
封测环节检测主要是电性能的检测,即通过分析测试结果,进而定位问题原因,并改进生产工艺,以提高良率及产品质量,可主要分为两种情况:晶圆检测和成品测试。晶圆检测是指在晶圆完成后、进行封装前,通过探针台和测试机的配合使用,对晶圆上的裸芯片进行功能和电参数测试,该环节的目的是确保在芯片封装前,尽可能地把无效芯片筛选出来以节约封装费用。成品测试是指芯片完成封装后,通过分选机和测试机的配合使用,对封装完成后的芯片进行功能和电参数测试,该环节的目的是保证出厂的每颗集成电路的功能和性能指标能够达到设计规范要求。无论是晶圆检测或是成品检测,要测试芯片的各项功能指标均须完成两个步骤:一是将芯片的引脚与测试机的功能模块连接起来;二是通过测试机对芯片施加输入信号,并检测输出信号,判断芯片功能和性能是否达到设计要求。
框架清晰但缺乏背景知识的我消化率有限hhh 1.晶圆材料制造:石英砂制造多晶硅→熔化块状多晶硅→长晶生成晶硅柱→切片→圆边→研磨、蚀刻、去疵、抛光 2.集成电路制造:表面清洗、氧化、热处理→(往复循环多次)上光刻胶-光刻-离子注入-晶体管形成(再循环)→晶体管互连 3.芯片封装测试:封装前测试-芯片颗粒切割-芯片粘贴-芯片封装-塑封-裁切成型-植球和回流焊-测试-打标-封装后测试 (1)目的:传递电能与电信号、散热、保护电路、实现多芯片系统集成 (2)阶段:一阶封装(IC封装:芯片键合塑封)-二阶封装(线路板组装:芯片颗粒→模板/线路板)-三阶封装(系统整合:模板-线路板→母版/系统版)-四阶封装(终端产品制造) (3)先进封装技术:硬质载板球栅阵列芯片封装、软质载板芯片封装、无载板芯片封装
图和分类比较详细,但整体内容描述有所欠缺
配图很直观
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